Matsushita T., Otabe E.S., Kim D., Turrioni D., Hampshire D.P., Gao H., Liu H., Liu F., Raine M.J., Cooley L., Hwang T.
Ключевые слова: LTS, Nb3Sn, wires, internal tin method, composites, RRR parameter, test results, comparison, measurement technique
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.